ボードテスト技術研究会は検査技術委員会に属しており、当研究会での活動成果の発表・議論を通し、各企業の検査プロセス改善活動を刺激し、国内の検査技術向上に貢献することや国内企業のグローバル競争力向上に貢献することを目的にしている。
活動は電子実装業界内における検査技術の現状や課題、ニーズ把握、および検査技術ロードマップの調査/研究を中心に行っている。
更に、当研究会主催のDFT（Design For Testability）公開研究会での議論・活動を発展させ、ボードテストに関する技術情報の収集および関係技術者の交流を促進し日本版BTW（Board Test Workshop）の発足に繋げるための準備まで視野に入れた活動を進めている。
| 主査： |
内山 浩志（富士ゼロックス株式会社）
kouji.uchiyama*fujixerox.co.jp |
| 幹事： |
小川 武男 （富士通株式会社）
ogawa.takeo*jp.fujitsu.com
(Eメールアドレスの*は@に置き換えてください。) |
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